天瑞EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪 天瑞EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪是一款全新上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。
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更新日期
2024-11-27 - 02
厂商性质
经销商 - 03
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