致新ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪 致新ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪:使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~2MHz,最小分辨率1mHz,基本测量精度可达0.05%。本仪器还可以测试MOS管的输入电容Ciss,输入电阻Rg等参数。同时提供了内置±10VDC电压源方便客户测试3端管子。
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更新日期
2024-11-24 - 02
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经销商 - 03
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