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天瑞EDX-T X射线荧光镀层测厚仪天瑞EDX-T X射线荧光镀层测厚仪该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦精准分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。

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更新日期
2024-11-27

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天瑞EDX4500H能量色散X荧光光谱仪天瑞EDX4500H能量色散X荧光光谱仪该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

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2024-11-27

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天瑞EDX3600能量色散X荧光光谱仪天瑞EDX3600能量色散X荧光光谱仪可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。

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天瑞EDX3000PLUS X荧光贵金属检测仪天瑞EDX3000PLUS X荧光贵金属检测仪在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能独到。采用25mm2大面积探测器，可准确无误地分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果符合国标GB/T 18043-2000要求。

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天瑞EDX600PLUS能量色散X荧光光谱仪天瑞EDX600PLUS能量色散X荧光光谱仪是一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精准检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

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2024-11-27

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天瑞EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪天瑞EDX Thick 800 X荧光镀层测厚仪是一款全新上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。

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2024-11-27

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天瑞EDX 2000A能量色散X荧光光谱仪天瑞EDX 2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。

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2024-11-27

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天瑞EDX 600能量色散X荧光光谱仪天瑞EDX 600能量色散X荧光光谱仪是集天瑞仪器多年贵⾦属检测技术和经验，功能⻬全的测试软件、友好的操作界⾯来满⾜贵⾦属成分检测的需要，⼈性化的设计，使测试⼯作更加轻松完成。

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2024-11-27

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